◆ | 首要任務是讓日語更容易理解。 | ◆ | 使用3個鍵()輕松操作。 | ◆ | 多功能型。 | ◆ | 大容量10,000點測量值存儲器。 | ◆ | 記憶10種校準曲線(基板特性)。 | ◆ | 支持厚膜測量,測量范圍為0至2000μm。 | ◆ | 內置24位打印機。 | ◆ | 通過內置RS-232C接口將大量數據直接傳輸到PC。 | ◆ | 向打印機輸出5種統計數據和2種圖形。 | ◆ | 帶EL背光的大型LCD顯示屏。 量對象 | Tetsumoto地面※絕緣膜和非磁性金屬膜 包括※鋼,鐵素體不銹鋼[如SUS430] | 測量范圍 | 0至2000μm或0至78 mil(可切換) | 顯示分辨率 | 0至200μm:1μm或0.1μm(可切換) 200至1000μm: 1μm1000至2000μm:2μm至10μm | 測量精度 | 均勻表面±1μm或指示值的±2% | 顯示方法 | LCD數字,16字符x 4行,字母數字,假名,符號,帶EL背光 | 探測器 | 1點恒壓接觸式,帶V型切口,φ13×50 mm 磁極:CVD加工磁極 | 記憶 | ◆ | 測量值:10,000點 | ◆ | 分區... 99塊(01到99) | - | 每個塊中可以將10個字母數字字符注冊為塊名稱 | ◆ | 校準曲線:10(0號到9號) | - | 每個字母數字曲線可以用8個字母數字字符作為校準曲線名稱進行配準 | - | 在出廠時,SUS-430的基板特性已經登記為0號的校準曲線(可由用戶重寫)。 | - | 零滿量程校正功能可以輕松校正每個注冊的校準曲線 |
| 測量數據 分類格式 | ◆ | 阻止(字母數字,符號多10個字符) | ◆ | 部分(通過設定點數自動進給) | ◆ | 點(1到99點設置一個部分的配置) | ◆ | 日期 |
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日本三高薄膜厚計 CTR-2000日本三高薄膜厚計 CTR-2000 |
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